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双元科技助力企业精益智造

提供从基础产品到行业应用的完善质量检测体系

双元科技-尊龙凯时网娱乐最新版

测量原理：通过分析材料上下表面反射光行成的干涉光谱，对膜材料厚度进行测量。
技术指标：
- 厚度范围：1nm-70μm
- 测量精度：1nm
应用领域（场景）：光学薄膜、半导体膜层、涂布膜层的厚度检测
技术亮点： 高速在线膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果，拥有极高的分析准确度，并且可同时分析计算多层膜厚。